描述:Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定,采用上照式,通過三維的移動和激光定位,實(shí)現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進(jìn)行鍍層厚度和含量的點(diǎn)測量.
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